掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家

ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:2025-11-12
日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社（jeol） 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時(shí)將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成，而且標(biāo)配 jeol 新開(kāi)發(fā)的 neo
更新時(shí)間:2025-11-12
德國(guó)KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
德國(guó)ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:2025-11-12
KSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無(wú)損檢測(cè)，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè)，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測(cè)時(shí)間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:2025-11-12
KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:2025-11-12
德國(guó)KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)，同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:2025-11-12
德國(guó)ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國(guó)zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開(kāi)始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開(kāi)發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報(bào)告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時(shí)間長(zhǎng)，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺(tái)，通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過(guò)程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了wds的能量分辨率。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器，組合使用wds和eds，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過(guò)與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒(méi)式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時(shí)間:2025-11-12
日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時(shí)間:2025-11-12
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-11-10
SEM掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡，臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中，掃描電鏡主要可以用來(lái)觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽(yáng)能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:2025-11-10
日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本電子熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時(shí)間:2025-11-10
日本電子掃描電子顯微鏡
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強(qiáng)大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無(wú)縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實(shí)現(xiàn)了sem影像觀察時(shí)實(shí)時(shí)的eds成份分析。
更新時(shí)間:2025-11-10
上海祥樹(shù)供應(yīng)IPF備件歐洲進(jìn)口
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過(guò)多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-11-07
上海祥樹(shù)供應(yīng)MOOG備件歐洲進(jìn)口
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過(guò)多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-11-07
上海祥樹(shù)供應(yīng)Endevco電纜
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過(guò)多年的努力與良好的信譽(yù)度，公司與國(guó)際機(jī)電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個(gè)穩(wěn)定而高效的全球化國(guó)際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時(shí)間:2025-11-07
和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過(guò)程中，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時(shí)間:2025-11-07
Sema6A抗體
sema6a抗體，本公司作為國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室及國(guó)內(nèi)各大院校長(zhǎng)期指定供應(yīng)商，質(zhì)量保證，價(jià)格低，抗體抗原，一抗二抗，單抗多抗，各種標(biāo)記抗體，蛋白多肽，期待您的來(lái)電！
更新時(shí)間:2025-11-07
現(xiàn)貨熱賣 SEM-Cl 76513-69-4
更新時(shí)間:2025-11-07
Sema6A抗體
我公司銷售各種類抗體，產(chǎn)品數(shù)量多，產(chǎn)品齊全，抗體純化、抗體制備，提供權(quán)威技術(shù)支持。單克隆抗體制備、多克隆抗體制備、抗體標(biāo)記，歡迎來(lái)電咨詢:顆粒蛋白前體抗體
更新時(shí)間:2025-11-07
氨基脲鹽酸鹽，鹽酸氨脲，肼甲酰胺鹽酸鹽，Semicarbazide hydrochloride
生化試劑氨基脲鹽酸鹽，鹽酸氨脲，肼甲酰胺鹽酸鹽，semicarbazide hydrochloride現(xiàn)貨銷售，可先提供發(fā)票，到貨時(shí)間3-5天，產(chǎn)品詳細(xì)信息可咨詢?cè)诰客服！
更新時(shí)間:2025-11-07
臂板蛋白4C(Sema4C)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白4c（sema4c）抗體，公司主營(yíng)菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服：13817240771
更新時(shí)間:2025-11-07
臂板蛋白3F(Sema3F)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白3f（sema3f）抗體，公司主營(yíng)菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服：13817240771
更新時(shí)間:2025-11-07
臂板蛋白3C(Sema3C)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白3c（sema3c）抗體，公司主營(yíng)菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服：13817240771
更新時(shí)間:2025-11-07
臂板蛋白3A(Sema3A)抗體
本公司為您提供：臂板蛋白3a（sema3a）抗體，公司主營(yíng)菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服：13817240771
更新時(shí)間:2025-11-07
SEMA域4(SEMA4D)抗體
本公司為您提供：sema域4（sema4d）抗體，公司主營(yíng)菌種，細(xì)胞，抗體，試劑，耗材，實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備等，更多信息請(qǐng)咨詢?cè)诰客服：13817240771
更新時(shí)間:2025-11-07
萬(wàn)能工具顯微鏡
本儀器具有較高的測(cè)量精度，適用于長(zhǎng)度和角度的精密測(cè)量；同時(shí)由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴(kuò)大。應(yīng)用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)量，能解決各種復(fù)雜的二維測(cè)量問(wèn)題，主要的測(cè)量對(duì)象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時(shí)間:2025-11-06
Anti-Sema6A,Sema6A抗體
anti-sema6a,sema6a抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-11-06
Anti-Sema7A/CD108,軸突生長(zhǎng)因子CD108抗體
anti-sema7a/cd108,軸突生長(zhǎng)因子cd108抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-11-06
Anti-Sema3A,臂板蛋白3A抗體
anti-sema3a,臂板蛋白3a抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-11-06
Anti-Sema4C,臂板蛋白4C抗體
anti-sema4c,臂板蛋白4c抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-11-06
Anti-Sema3F,臂板蛋白3F抗體
anti-sema3f,臂板蛋白3f抗體，F(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎來(lái)電咨詢：15821073937 或咨詢公司在線q：1832659204，歡迎您的惠顧。
更新時(shí)間:2025-11-06
蔡司電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)2022動(dòng)態(tài)已更新《采購(gòu)/推薦》
蔡司電腦斷層掃描測(cè)量機(jī)-多探頭測(cè)量機(jī)設(shè)備;工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見(jiàn)，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對(duì)組件進(jìn)行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時(shí)間:2025-11-06
CONTRINEX接近開(kāi)關(guān)DW-AS-503-P20 3mm PNP NO
上海祥樹(shù)歐茂機(jī)電設(shè)備有限公司是中國(guó)工業(yè)控制自動(dòng)化域的服務(wù)貿(mào)易商，設(shè)有德國(guó)分公司,致力于為國(guó)內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)低價(jià)的德國(guó)及歐洲生產(chǎn)的各類工控自動(dòng)化產(chǎn)品、儀器儀表、備品備件等。通過(guò)德國(guó)分公司在歐洲范圍內(nèi)采購(gòu),每周日由德國(guó)分公司拼單發(fā)貨并集中辦理進(jìn)口手續(xù),為您節(jié)省運(yùn)費(fèi)和清關(guān)等費(fèi)用;每周至少空運(yùn)發(fā)貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價(jià)成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開(kāi)創(chuàng)美好的明天！
更新時(shí)間:2025-11-04
Phenom MAPS 大面積圖像拼接
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動(dòng)采集及拼接軟件，可自動(dòng)獲取大型圖像數(shù)據(jù)集，并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2025-11-04
ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 chemisem 技術(shù)，將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡(jiǎn)化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過(guò)彩色元素分布圖與 sem 圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
更新時(shí)間:2025-11-04
飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面，一鍵掃描更便捷掃描“形狀”自定義大樣品全景觀測(cè)高清圖像無(wú)錯(cuò)位
更新時(shí)間:2025-11-04
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡chemiphase物相分析軟件更容易，更全面，更準(zhǔn)確的物相分析
更新時(shí)間:2025-11-04
飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡 Phenom ProX
飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
更新時(shí)間:2025-11-04

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