掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-09-23
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-09-23
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-09-23
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-09-23
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-09-23
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-09-23
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-09-23
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-23
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-09-23
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-09-23
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學(xué)顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現(xiàn)了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-09-23
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-22
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-09-22
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-09-22
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-09-22
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-09-22
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-22
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-09-22
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-22
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設(shè)備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時間:2025-09-22
fei verios xhr sem 掃描電子顯微鏡是 fei *的 xhr（*分辨率）sem 系列的第二代產(chǎn)品。在*半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率
更新時間:2025-09-19
蔡司 gemini sem場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的gemini技術(shù)，geminisem具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設(shè)計將靜電場與磁場結(jié)合
更新時間:2025-09-19
蔡司 sigma高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于*的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可
更新時間:2025-09-19
蔡司 evo ma鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的x、y、z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢
更新時間:2025-09-19
fei nova nano sem 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微
更新時間:2025-09-19
fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大
更新時間:2025-09-19
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。【技術(shù)參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-09-19
二十多年來，基于日漸完善的gemini技術(shù)，geminisem具有完整高效的檢測系統(tǒng)、極高的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設(shè)計將靜電場與磁場結(jié)合，可在最大限度地提升光學(xué)性能的同時將場發(fā)射對樣品的損傷降至最低。此設(shè)計確保了極佳的成像質(zhì)量，即使是較具挑戰(zhàn)性的磁性材料也同樣可以達到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調(diào)整時間，并可最大限度地降低成像時間。gemini電子束加速器技術(shù)確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達到超低的加速電壓。【技術(shù)參數(shù)】
更新時間:2025-09-19
nspecttm系列滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需求而設(shè)計，配備高穩(wěn)定分辨率平臺，可滿足大多數(shù)研究的需要。簡單易用的界面可實現(xiàn)準確、快速的數(shù)據(jù)收集：將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結(jié)合，確定材料特性及其化學(xué)元素組成。在眾多領(lǐng)域，高分辨率和高電流 feg 掃描電鏡的價值在于有助應(yīng)對生成高品質(zhì)圖像和實施快速分析的挑戰(zhàn)。
更新時間:2025-09-19
該產(chǎn)品是世界上di一款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡（feg-sem）。作為fei公司引領(lǐng)市場的眾多設(shè)備中zui新的一員，nova nanosem為用戶在納米研究、開發(fā)與生產(chǎn)的相關(guān)工作提供了更多的可能。 nova nanosem的出現(xiàn)為那些非導(dǎo)電的以及有污染的納米材料研究和開發(fā)者們帶來了新的表征手段。與nanosem同時
更新時間:2025-09-19
全新的 magellan? 400 sem 是首款可在1-30 kv 電子能量范圍內(nèi)提供亞納米級分辨率的掃描電鏡，有效建立被稱為 xhr 掃描電鏡的全新性能類別。非凡的低加速電壓性能可提供其他技術(shù)根本無法實現(xiàn)的超高分辨率表面特定信息。在半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲市場，magellan 前所未有的性能可大幅擴展 sem 的功能，提供基礎(chǔ)研究、流程和材料開發(fā)、流程控制以及故障分析所需的全面解決方案。它可實現(xiàn)快速高襯度成像，并具備大樣品或多樣品的亞納米級分辨率成像和全面分析
更新時間:2025-09-19
?titan etem g2 是我們專用的環(huán)境 tem 平臺，設(shè)計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借du一無二的差動泵目鏡，標本區(qū)可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態(tài)及相互作用。在需要時，titan etem 還可作為標準 s/tem 開展原子級別成像。- 化學(xué)成分和價鍵狀態(tài)研究
更新時間:2025-09-19
apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨特的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現(xiàn)在的zui大樣品倉壓力為 500 pa，可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。
更新時間:2025-09-19
fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學(xué)表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實現(xiàn)zui快速、zui精確的 eds 分析，以及zui好且支持快速導(dǎo)航的動態(tài)顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業(yè)ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態(tài)顯微鏡實現(xiàn)zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時，fei talos f200s 還提供zui高的穩(wěn)定性和最長的正常運行時間。
更新時間:2025-09-19
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低
更新時間:2025-09-19
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術(shù),它使顯微學(xué)家
更新時間:2025-09-19
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（esem™）和兩個dualbeam™系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實驗室，材料科
更新時間:2025-09-19
要特點：1.fei esem(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺，全數(shù)字化系統(tǒng)。
更新時間:2025-09-19
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產(chǎn)品。在jian端半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢。verios 的生命科學(xué)應(yīng)用觀測敏感的生物樣本時，
更新時間:2025-09-19
飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產(chǎn)品，第四代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 130,000 倍，分辨率優(yōu)于 14 nm，30 秒快速得到表面細節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業(yè)版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設(shè)計等優(yōu)點。
更新時間:2025-09-19
最新產(chǎn)品
- Pterisolic acid F 2025/9/24 20:04:48
- Pterisolic acid E 2025/9/24 20:04:24
- Merulidial 2025/9/24 20:04:00
- Cotylenol 2025/9/24 20:03:36
- Curvulol 2025/9/24 20:03:12
- Sphingolipid E 2025/9/24 20:02:47
- Ergocristam 2025/9/24 20:02:23
- Pterisolic acid C 2025/9/24 20:01:59
- 8-(6,7-Dihydroxy-3,7-dimethyl-2E-octenyloxy)psoralen 2025/9/24 20:01:35
- Smyrindiol 2025/9/24 20:01:11
- Gostatin 2025/9/24 20:00:47
- Vanilloloside 2025/9/24 20:00:23
- Fomentariol 2025/9/24 19:59:59
- Pabularinone 2025/9/24 19:59:35
- Purpuride 2025/9/24 19:59:11
- 推選QX41 2025/9/24 19:54:03
- Perezone 2025/9/24 19:58:46
- Rishitinol 2025/9/24 19:58:22
- Turneforcidine 2025/9/24 19:57:58
- Pterisolic acid A 2025/9/24 19:57:34
- Fujenal 2025/9/24 19:57:10
- Actinidioionoside 2025/9/24 19:56:46
- Antiproliferative agent-69 2025/9/24 19:56:22
- 推選HUB W4S1-05C 2025/9/24 19:51:34
- Lasiol 2025/9/24 19:55:58
- 現(xiàn)貨G3LS-40-5-220 2025/9/24 19:50:58
- Rhamnitol 2025/9/24 19:55:34
- Saringosterol 2025/9/24 19:55:10
- @商務(wù)推出750-474/000-200 2025/9/24 19:50:16
- 1,2,4,6-Tetra-O-galloyl-β-D-glucose 2025/9/24 19:54:46