場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設(shè)計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
更新時間:2025-08-01
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時間:2025-08-01
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產(chǎn)品系列憑借其最先進的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標(biāo)準(zhǔn)。
更新時間:2025-08-01
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息！炯夹g(shù)參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-07-31
【hitachi】冷場發(fā)射掃描電鏡regulus8100易維護、易操作等優(yōu)點，進一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達到了0.8nm，15kv達到0.7nm，高低電壓均可滿足高分辨的觀察。
更新時間:2025-07-31
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進科技“獨具匠心”。
更新時間:2025-07-31
【hitachi】日立新型熱場發(fā)射掃描電鏡su5000高穩(wěn)定性熱場發(fā)射電子槍， 全新的em wizard軟件，無需設(shè)置參數(shù)即可獲得高質(zhì)量圖片，高分辨率和強大的分析能力，樣品適用性強：不導(dǎo)電樣品直接觀察（低真空功能，10-300pa）
更新時間:2025-07-31
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡單、性能強（4nm@20kv）、擴展功能豐富2. 擁有多個探測器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導(dǎo)電和含水樣品直接觀察
更新時間:2025-07-31
aerosurf1500可在大氣壓（105pa）下得到sem圖像；2、臺式掃描電鏡設(shè)計；3、低真空下成分分析；4、優(yōu)質(zhì)的圖像處理控制；
更新時間:2025-07-31
日立l型fib-sem-ar三束系統(tǒng)nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對角構(gòu)造。
更新時間:2025-07-31
日立高分辨型雙束系統(tǒng)nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復(fù)雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導(dǎo)體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細(xì)加工。
更新時間:2025-07-31
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉和多接口設(shè)計，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時間:2025-07-31
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級 "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-07-31
【hitachi】日立新型臺式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達臺*2，原來需手動調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時間:2025-07-31
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時滿足軟材料/納米材料類和生命科學(xué)類客戶對電鏡的需求。
更新時間:2025-07-31
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-07-31
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術(shù)，使其低電壓性能大大提升，同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得su3800的觀察能力進一步提升。
更新時間:2025-07-31
日立透射電鏡ht7820 繼承了標(biāo)準(zhǔn)版ht7800高速cmos熒光屏相機設(shè)計、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點和創(chuàng)新點，仍然采用第二代雙隙物鏡的設(shè)計，設(shè)計使用高分辨物鏡，標(biāo)配lab6燈絲，性能實現(xiàn)突破性提升。
更新時間:2025-07-31
su7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、in-situ觀察等fe-sem的眾多卓越性能。su7000是一臺實現(xiàn)了信息獲取量大化的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。
更新時間:2025-07-31
創(chuàng)新的“em wizard”界面更加直觀，僅需要“點擊”即可得到完美的圖像。超的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。
更新時間:2025-07-31
現(xiàn)有機型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。
更新時間:2025-07-31
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設(shè)計，用于成像及分析應(yīng)用的高性能熱場發(fā)射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點是高亮度肖特基場發(fā)射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測器。在獲得高成像質(zhì)量的基礎(chǔ)上還具有良好的易用性。
更新時間:2025-07-30
日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時間:2025-07-22
超大樣品臺（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個 1/2 英寸樣品臺樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個樣品臺可以對各種各樣的樣品成像
更新時間:2025-07-14
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡這次新開發(fā)的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時間:2025-07-10
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時間:2025-07-10
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日
更新時間:2025-07-10
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素擴展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)
更新時間:2025-07-10
日立大型掃描電鏡近年來為了實現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開發(fā)以外，已擴展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求，以進一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān) 此次發(fā)
更新時間:2025-07-10
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過程（選配） 在樣品倉上可選配光學(xué)相機，樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時間:2025-07-10
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應(yīng)對 大高度為80mm、重量為2k
更新時間:2025-07-10
日立臺式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開始銷售，可放在辦公桌上，
更新時間:2025-07-10
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大
更新時間:2025-07-10
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗已超過60年，其技術(shù)先進、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。zeiss不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價值 和高利用性。
更新時間:2025-07-05
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點：
更新時間:2025-07-05
設(shè)計用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時間:2025-06-27
微型電子元器件插件是設(shè)計用來最小化制樣時間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-06-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達到 10 nm，同時具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點。
更新時間:2025-06-27
秉承飛納臺式掃描電鏡系列全自動操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時間:2025-06-27
暗明場成像原理:晶體薄膜樣品明暗場成像的襯度(即不同區(qū)域的亮暗差別),是由于樣品相應(yīng)的不同部位結(jié)構(gòu)或取向的差別導(dǎo)致衍射強度的差異而形成的,因此稱其為衍射襯度,以衍射襯度機制為主而形成的圖像稱為衍襯像。如果只允許透射束通過物鏡光欄成像,稱其為
更新時間:2025-06-26
shnti的x-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作（即薄膜與光束成一定角度）時，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時間:2025-06-25
最新產(chǎn)品
- 大鼠脾源性內(nèi)皮祖細(xì)胞 2025/8/2 18:10:53
- 大鼠脾淋巴細(xì)胞 2025/8/2 17:59:16
- 大鼠脾基質(zhì)細(xì)胞 2025/8/2 17:46:22
- 大鼠皮膚成纖維細(xì)胞 2025/8/2 17:37:01
- 大鼠胚胎成纖維細(xì)胞（絲裂霉素C處理） 2025/8/2 17:31:38
- 大鼠胚胎成纖維細(xì)胞 2025/8/2 17:21:58
- 大鼠腦血管周細(xì)胞 2025/8/2 17:17:05
- 大鼠腦血管成纖維細(xì)胞 2025/8/2 17:11:51
- 大鼠腦微血管內(nèi)皮細(xì)胞 2025/8/2 16:59:01
- 大鼠腦皮層神經(jīng)元細(xì)胞 2025/8/2 16:51:49
- 大鼠腦膜細(xì)胞 2025/8/2 16:44:20
- 大鼠腦膠質(zhì)細(xì)胞 2025/8/2 16:22:36
- 大鼠腦動脈血管內(nèi)皮細(xì)胞 2025/8/2 16:15:44
- 大鼠腦動脈平滑肌細(xì)胞 2025/8/2 16:10:47
- 鋼砝碼100kg 平板砝碼 可吊可叉衡器砝碼 地磅校準(zhǔn)砝碼 等級M1 車間磅秤校準(zhǔn)砝碼 2025/8/2 16:07:38
- 大鼠毛囊角質(zhì)細(xì)胞 2025/8/2 16:04:03
- 大鼠毛囊干細(xì)胞 2025/8/2 15:56:41
- 衡翼眼角膜原位拉伸疲勞試驗機實時跟進 2025/8/2 15:36:48
- 衡翼原位（SEM，TEM）微觀力學(xué)測試儀器報價實時跟進 2025/8/2 15:35:25
- 衡翼掃描電鏡原位高溫力學(xué)試驗機報價實時跟進 2025/8/2 15:33:14
- 衡翼?金屬薄膜原位拉伸試驗機報價實時跟進 2025/8/2 15:31:44
- 衡翼?微試樣視頻引伸計原位拉壓試驗機實時報價 2025/8/2 15:30:53
- 衡翼微試樣非接觸式引伸計原位拉伸試驗機實時報價 2025/8/2 15:27:53
- 衡翼高分子薄膜水浴原位拉伸試驗機實時報價 2025/8/2 15:21:02
- 衡翼生物軟組織高低溫原位拉伸試驗機實時報價 2025/8/2 15:17:40
- 衡翼微機控制非接觸式視頻引伸計原位拉伸試驗機實時報價 2025/8/2 15:16:59
- 衡翼微機控制恒溫水浴原位拉伸試驗機實時報價 2025/8/2 15:16:00
- 衡翼顯微鏡原位加載試驗機實時報價 2025/8/2 15:12:01
- 衡翼微機控制恒溫水浴原位壓縮試驗機實時報價 2025/8/2 15:11:27
- 衡翼材料微觀力學(xué)原位疲勞試驗機實時報價 2025/8/2 15:10:25