測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

度班涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，能快速、無(wú)損傷、精密地測(cè)量涂、鍍層的厚度；可用于工程現(xiàn)場(chǎng)，也可用于實(shí)驗(yàn)室，是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。
更新時(shí)間:2025-11-13
高精度超聲波測(cè)厚儀
本儀器適用于石化工業(yè)、造船業(yè)、汽車制造業(yè)、電站、機(jī)器制造業(yè)中對(duì)鍋爐、儲(chǔ)油罐、管道、 管材、 板坯、鍛件、法蘭、船殼、甲板、軌道、機(jī)加工零件等的厚度測(cè)量和腐蝕測(cè)量。 對(duì)于大部分能傳播超聲波的材料均可以使用本儀器測(cè)厚，如： 金屬、陶瓷、塑料、尼龍、玻璃等。
更新時(shí)間:2025-11-13
紙張測(cè)厚儀、紙張厚度儀、紙張厚度測(cè)定儀
chy-c2a紙張測(cè)厚儀、紙張厚度儀、紙張厚度測(cè)定儀，采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
紙板紙張測(cè)厚儀 GB/T 6547瓦楞紙板厚度測(cè)試儀
紙板紙張測(cè)厚儀 gb/t 6547瓦楞紙板厚度測(cè)試儀——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
無(wú)紡布測(cè)厚儀 織物測(cè)厚度儀 紡織品厚度測(cè)試儀
c640無(wú)紡布測(cè)厚儀 織物測(cè)厚度儀 紡織品厚度測(cè)試儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
更新時(shí)間:2025-11-13
Labthink電子紙張測(cè)厚儀 臺(tái)式紙張厚度儀 紙張厚度測(cè)定儀
labthink電子紙張測(cè)厚儀 臺(tái)式紙張厚度儀 紙張厚度測(cè)定儀——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
無(wú)紡布厚度測(cè)定儀 紡織品厚度檢測(cè)儀 紡織品測(cè)厚儀
無(wú)紡布厚度測(cè)定儀 紡織品厚度檢測(cè)儀 紡織品測(cè)厚儀（型號(hào)c640）采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量
更新時(shí)間:2025-11-13
紙張厚度測(cè)試儀 紙板厚度儀 紙板厚度測(cè)試儀
紙張厚度測(cè)試儀 紙板厚度儀 紙板厚度測(cè)試儀——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
紙板厚度測(cè)定儀 紙板厚度檢測(cè)儀 紙板厚度測(cè)量?jī)x
紙板厚度測(cè)定儀 紙板厚度檢測(cè)儀 紙板厚度測(cè)量?jī)x——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
薄片測(cè)厚儀 金屬片測(cè)厚儀 臺(tái)式膜厚儀膜厚計(jì)
薄片測(cè)厚儀 金屬片測(cè)厚儀 臺(tái)式膜厚儀膜厚計(jì)——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
C640硅片測(cè)厚儀 薄片厚度測(cè)定儀 鋰電隔膜測(cè)厚儀
c640硅片測(cè)厚儀 薄片厚度測(cè)定儀 鋰電隔膜測(cè)厚儀——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
GB/T 451.3接觸式紙張厚度儀 電子式紙張厚度測(cè)定儀
gb/t 451.3接觸式紙張厚度儀 電子式紙張厚度測(cè)定儀——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
chy-c2a藥用鋁箔測(cè)厚儀 鋁箔厚度測(cè)量?jī)x 藥用鋁箔厚度儀
chy-c2a藥用鋁箔測(cè)厚儀 鋁箔厚度測(cè)量?jī)x 藥用鋁箔厚度儀——采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
接觸式壓力測(cè)厚儀 無(wú)紡布厚度測(cè)試儀 無(wú)紡布厚度測(cè)量?jī)x
接觸式壓力測(cè)厚儀 無(wú)紡布厚度測(cè)試儀 無(wú)紡布厚度測(cè)量?jī)x——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
電池硅片測(cè)厚儀 硅片厚度測(cè)量?jī)x 薄片厚度檢測(cè)儀
c640電池硅片測(cè)厚儀 硅片厚度測(cè)量?jī)x 薄片厚度檢測(cè)儀，是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量。可選配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
橡膠片材測(cè)厚儀 實(shí)驗(yàn)室厚度儀 高精度測(cè)厚測(cè)定儀
c640橡膠片材測(cè)厚儀 實(shí)驗(yàn)室厚度儀 高精度測(cè)厚測(cè)定儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
GB/T 6672臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 包裝薄膜厚度測(cè)定儀Labthink
gb/t 6672臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 包裝薄膜厚度測(cè)定儀labthink——chy-c2a測(cè)厚儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
臺(tái)式測(cè)厚儀 電子鋁箔測(cè)厚儀 壓力測(cè)厚儀C640
臺(tái)式測(cè)厚儀 電子鋁箔測(cè)厚儀 壓力測(cè)厚儀c640——c640測(cè)厚儀是一款高精度、高重復(fù)性的機(jī)械接觸式精密測(cè)厚儀，業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測(cè)量？蛇x配自動(dòng)進(jìn)樣機(jī)，更加準(zhǔn)確、高效的進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
CHY-C2A銅箔測(cè)厚儀 銅箔厚度儀 銅箔厚度測(cè)試儀
chy-c2a銅箔測(cè)厚儀 銅箔厚度儀 銅箔厚度測(cè)試儀采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
AGC/HGC缸位置傳感器
magnescale co.,ltd.授權(quán)業(yè)銷售服務(wù)技術(shù)中心-上海邁信諾提供現(xiàn)場(chǎng)標(biāo)定，技術(shù)支持，保護(hù)套定制等。agc/hgc缸位置傳感器，磁尺保護(hù)套，軋機(jī)輥縫裝置
更新時(shí)間:2025-11-13
天瑞測(cè)厚儀Thick800A
rf鍍層測(cè)厚儀：俗稱x射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等；功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；應(yīng)用范圍：測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22（ti）到92（u）;5 層 （4 鍍層 + 基材） / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法面符合 iso 3497, astm b568 和din 50987應(yīng)用
更新時(shí)間:2025-11-13
Thick8000金屬鍍層儀價(jià)格
x射線金鍍層測(cè)厚儀 ，銅鍍銀測(cè)厚儀，銅上鍍銀鎳層檢測(cè)儀，pcb線路板鍍層測(cè)厚儀，產(chǎn)電鍍層測(cè)厚儀，電鍍層測(cè)厚儀，x射線熒光鍍層測(cè)厚儀，鍍鎳無(wú)損電鍍測(cè)厚儀，鍍金層x射線無(wú)損測(cè)厚儀，金屬鍍層rohs檢測(cè)儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，鍍銀層無(wú)損測(cè)厚儀，x熒光鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，x熒光電鍍層測(cè)厚儀，鍍層膜厚測(cè)試儀，銅上鍍鎳金測(cè)厚儀，x熒光金屬膜厚測(cè)厚儀，產(chǎn)x射線鍍層測(cè)厚儀，xrf鍍層膜厚測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-11-13
金屬鍍層厚度檢測(cè)儀Thick600
天瑞儀器是業(yè)金屬鍍層厚度檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家，主要測(cè)試電鍍層厚度，公司總部位于美麗的昆山，距離上海非常之近，滿足周邊客戶的及時(shí)快速維護(hù)。早期，測(cè)厚儀基本被外廠家（德費(fèi)希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做x射線鍍層測(cè)厚儀，是家業(yè)生產(chǎn)金屬鍍層厚度檢測(cè)儀的廠家，在x熒光鍍層檢測(cè)方面，率先打破外的技術(shù)壟斷。天瑞推出的th
更新時(shí)間:2025-11-13
金屬電鍍層厚度測(cè)厚儀
金屬電鍍層厚度測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序
更新時(shí)間:2025-11-13
X射線無(wú)損光譜測(cè)厚儀
x射線無(wú)損光譜測(cè)厚儀thick800athick800a硬件技術(shù)● x射線下照式，激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉(cāng)，對(duì)于大件樣品、異形不平整樣品，無(wú)需拆分打磨，可直接測(cè)試● 模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率● *小光斑0.2mm，可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)定位，避免材質(zhì)干擾，測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確
更新時(shí)間:2025-11-13
中壓電器鍍層厚度檢測(cè)儀
中壓電器鍍層厚度檢測(cè)儀產(chǎn)品介紹edx 600 plus鋅鎳層光譜測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行**檢測(cè)？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2025-11-13
天瑞電鍍層測(cè)厚儀
天瑞電鍍層測(cè)厚儀edx-v是天瑞儀器集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，研發(fā)的一 款x射線熒光鍍層測(cè)厚及成分分析儀。儀器采用多導(dǎo)毛細(xì)管x射線光學(xué)系統(tǒng)，對(duì)于微米級(jí)尺寸電子零件、晶圓微區(qū)、芯片針腳等部件的鍍層厚度和成分分析，能進(jìn)行高效、準(zhǔn)確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-11-13
電鍍鍍金測(cè)厚儀
電鍍鍍金測(cè)厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須，大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補(bǔ)正算法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測(cè)試面的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-13
熒光x射線測(cè)厚儀-讓品質(zhì)掌握在手中-天瑞儀器
熒光x射線測(cè)厚儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2025-11-13
陶瓷鍍鉬錳測(cè)厚儀
edx 2000a陶瓷鍍鉬錳測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備
更新時(shí)間:2025-11-13
蘇州x-ray膜厚分析儀
蘇州x-ray膜厚分析儀在光學(xué)行業(yè)中也大顯身手。在光電子設(shè)備、光學(xué)玻璃制造等域，對(duì)薄膜材料的膜厚要求非常高。通過(guò)x-ray膜厚分析儀進(jìn)行測(cè)試，可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)膜厚，并及時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝，避免因膜厚偏差而造成的產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題。
更新時(shí)間:2025-11-13
測(cè)厚儀天瑞儀器
測(cè)厚儀天瑞儀器是客戶在采購(gòu)過(guò)程中比較關(guān)心的一個(gè)問(wèn)題，首先客戶考慮自己的一個(gè)測(cè)試要求，另外根據(jù)公司的實(shí)際發(fā)展需要進(jìn)行綜合，不能盲目的崇拜國(guó)外品牌，也不能一味的追求低價(jià)格，選擇合適的才是硬道理
更新時(shí)間:2025-11-13
檢測(cè)鍍金層厚度分析儀
檢測(cè)鍍金層厚度分析儀是門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型高端儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2025-11-13
x熒光測(cè)厚儀供貨商
x熒光測(cè)厚儀供貨商2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度9.大樣品腔10 .小孔準(zhǔn)直器
更新時(shí)間:2025-11-13
國(guó)產(chǎn)臺(tái)式測(cè)厚儀公司
國(guó)產(chǎn)臺(tái)式測(cè)厚儀公司edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)，門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2025-11-13
半導(dǎo)體鍍膜膜厚測(cè)量?jī)x
應(yīng)用優(yōu)勢(shì)半導(dǎo)體鍍膜膜厚測(cè)量?jī)x針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2025-11-13
x光鍍層測(cè)厚儀器
x光鍍層測(cè)厚儀器 軟件界面人性化的軟件界面，讓操作變得*加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作*易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控，讓您的使用*加放心。
更新時(shí)間:2025-11-13
天瑞儀器鍍錫測(cè)厚儀 廠家促銷全國(guó)優(yōu)惠
鍍錫測(cè)厚儀特點(diǎn)1.上照式2.高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽7.高格度移動(dòng)平臺(tái)8.自動(dòng)定位高度
更新時(shí)間:2025-11-13
天瑞原廠供應(yīng)高壓隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層檢測(cè)儀Thick800A精度高芯片半導(dǎo)體
高壓隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層檢測(cè)儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。高度傳感器保護(hù)傳感器
更新時(shí)間:2025-11-13
rohs1.0有害物質(zhì)檢測(cè)儀
rohs1.0有害物質(zhì)檢測(cè)儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1.分析樣品無(wú)損、快速，針對(duì)未知樣品可以快速分析；2.可采用小型的xrf設(shè)備進(jìn)行便攜測(cè)試。3.在保證工作曲線完善和樣品處理的情況下，其測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好
更新時(shí)間:2025-11-13
金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀
上照式設(shè)計(jì)，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀全新的光路，更短的光程，相較傳統(tǒng)光路，信號(hào)采集效率提 升2倍以上？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng)，不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品，同時(shí)也兼顧了臺(tái)階，深槽，沉孔樣品的測(cè)試需求。
更新時(shí)間:2025-11-13
X射線熒光膜厚儀器
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。x射線熒光膜厚儀器電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸： 576(w)×495(d)×545(h) mm 樣品室尺寸：500(w)×350(d)×140(h) mm重量：90kg 標(biāo)準(zhǔn)配置 開(kāi)放式樣品腔。
更新時(shí)間:2025-11-13
X-RAY半導(dǎo)體膜厚儀
x-ray半導(dǎo)體膜厚儀：thick800a測(cè)定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測(cè)試時(shí)間：40s第三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2025-11-13
銅鍍化學(xué)鎳厚度檢測(cè)儀
銅鍍化學(xué)鎳厚度檢測(cè)儀采用高分辨率的sdd探測(cè)器，分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓，讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管，猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。多種準(zhǔn)直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；φ0.15mm;φ0.2mm；φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
更新時(shí)間:2025-11-13
鍍層測(cè)厚儀XRF檢測(cè)儀
鍍層測(cè)厚儀xrf檢測(cè)儀自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng)，讓您永遠(yuǎn)不再為數(shù)據(jù)突然變化而擔(dān)心。 金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備，不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加顯現(xiàn)，更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。金屬表面處理電鍍測(cè)厚儀外觀簡(jiǎn)潔大方，通過(guò)自動(dòng)化的x軸丫軸z軸的三維移動(dòng)，雙激光定位和保護(hù)系
更新時(shí)間:2025-11-13
高壓開(kāi)關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀
高壓開(kāi)關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)，門研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備，不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)更加顯現(xiàn)，更能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。儀器外觀簡(jiǎn)潔大方，通過(guò)自動(dòng)化的x軸丫軸z軸的三維移動(dòng)，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦準(zhǔn)確分析。
更新時(shí)間:2025-11-13
鍍層測(cè)厚儀器
鍍層測(cè)厚儀器設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為**，大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)了對(duì)*小產(chǎn)品的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-13
pcb硬板鍍層測(cè)厚儀
pcb硬板鍍層測(cè)厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為**，大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)了對(duì)*小產(chǎn)品的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-13
x射線熒光光譜測(cè)厚儀
x射線熒光光譜測(cè)厚儀全新的下照式設(shè)計(jì)，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須，較大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴(kuò)散，實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。
更新時(shí)間:2025-11-13
光譜鍍金厚度分析儀鍍錫厚度檢測(cè)儀X熒光鍍層測(cè)厚儀
光譜鍍金厚度分析儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)并生產(chǎn)xrf鍍層測(cè)厚儀。鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭
更新時(shí)間:2025-11-13

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑