iso 534標(biāo)準(zhǔn)紙板測厚儀 紙張厚度測量儀——chy-c2a測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
x 熒光光譜測厚儀采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺,鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。熒光x射線儀鍍層測厚儀相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。