表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家
trek-152-1 表面電阻測(cè)試儀是用來(lái)精確測(cè)量各種傳導(dǎo)、損耗、絕緣的面電阻，model 152- 1 是采 用了幾種 esd 標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)來(lái)進(jìn)行面電阻和面電 阻系數(shù)的測(cè)量，包括采用 s2.1 標(biāo) 準(zhǔn)對(duì)靜電衣的測(cè)量,s4.1 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)工作環(huán)境表面的測(cè)量，s7.1 對(duì)地面電 阻的測(cè)量，s11.11 對(duì)平 板材料的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-22
gkz-ii全自動(dòng)高溫抗折儀高溫抗彎強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)適用gb3002-2004耐火制品高溫抗折強(qiáng)度試驗(yàn)方法，gb/t13243-91，yb/t5201-93對(duì)耐火制品、含碳耐火材料、致密耐火澆注料、陶瓷輥捧及其他陶瓷、硅酸鹽制品的高溫抗折試驗(yàn)要求，連計(jì)算機(jī)自動(dòng)測(cè)試，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，施力平穩(wěn)，維修方便，數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠。連續(xù)進(jìn)樣，一次試驗(yàn)可連續(xù)檢測(cè)四個(gè)樣品。
更新時(shí)間:2025-09-22
真空系統(tǒng):v-sorb獨(dú)創(chuàng)的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分布測(cè)定空隙率分析的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命;
更新時(shí)間:2025-09-19
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：該產(chǎn)品既可測(cè)量表面阻抗，又可測(cè)量對(duì)地電阻，量程范圍廣，從103歐姆/□到1012歐姆/□，精度為±1/2量程采用astm標(biāo)準(zhǔn)d-257平行電極傳感方法，可以簡(jiǎn)便、重復(fù)地測(cè)量各種傳導(dǎo)型、靜電泄放型、絕緣型表面。
更新時(shí)間:2025-09-19
ght-g-絕緣材料體積表面積電阻率測(cè)試儀：適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-09-18
電阻兩端施加直流，測(cè)出當(dāng)環(huán)境下的溫度和繞組電阻，并轉(zhuǎn)換為溫度下(20℃或25℃)的電阻值。測(cè)試航插1-2之間的阻值和3-4針腳的阻值。測(cè)試范圍：0ω～1000ω測(cè)量精度：0.01ω溫度測(cè)量：（0.0～60.0）℃，精度：0.01ω
更新時(shí)間:2025-09-18
數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀是通過測(cè)量防靜電產(chǎn)品的電阻，從而檢測(cè)防靜電產(chǎn)品的防靜電能力，sl-030b數(shù)顯重錘式表面電阻測(cè)試儀遵循astm標(biāo)準(zhǔn)d-257測(cè)試方法，測(cè)試時(shí)只需把兩個(gè)重錘放置在需要測(cè)量的物體表面及按下紅色的按鍵，儀器上會(huì)顯示出所測(cè)物的表面電阻值。 特點(diǎn)：電池電壓低于5伏時(shí)，lwbattery指示燈會(huì)亮； 具有數(shù)字顯示； 是測(cè)量環(huán)境溫度、濕度和物體表面電阻為體的多功能測(cè)試儀。
更新時(shí)間:2025-09-18
轉(zhuǎn)子交流阻抗測(cè)試儀是判斷發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子繞組有無(wú)匝間短路的用儀器，可以全自動(dòng)、手動(dòng)（單向或雙向）測(cè)量轉(zhuǎn)子繞組的電壓、電流、阻抗、功率、相位角等參數(shù)。
更新時(shí)間:2025-09-18
導(dǎo)管滑動(dòng)性能測(cè)試儀 導(dǎo)絲摩擦力測(cè)定儀采用先進(jìn)的測(cè)試原理,通過硅膠片向?qū)Ч軐?dǎo)絲施加法向夾持力,在豎直方向上以一定的速度提升樣品。在測(cè)試過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)供試樣品在多次反復(fù)過程中的摩擦力/摩擦系數(shù)變化情況。通過分析摩擦力/摩擦系數(shù)隨時(shí)間或隨位移的變化,可以評(píng)估涂層的牢固程度和耐磨性能。
更新時(shí)間:2025-09-18
導(dǎo)絲滑動(dòng)性能檢測(cè)儀器|導(dǎo)絲摩擦力試驗(yàn)儀采用先進(jìn)的測(cè)試原理,通過硅膠片向?qū)Ч軐?dǎo)絲施加法向夾持力,在豎直方向上以一定的速度提升樣品。在測(cè)試過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)供試樣品在多次反復(fù)過程中的摩擦力/摩擦系數(shù)變化情況。通過分析摩擦力/摩擦系數(shù)隨時(shí)間或隨位移的變化,可以評(píng)估涂層的牢固程度和耐磨性能。
更新時(shí)間:2025-09-18
yyt1898-2024導(dǎo)絲滑動(dòng)性測(cè)試儀采用先進(jìn)的測(cè)試原理,通過硅膠片向?qū)Ч軐?dǎo)絲施加法向夾持力,在豎直方向上以一定的速度提升樣品。在測(cè)試過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)供試樣品在多次反復(fù)過程中的摩擦力/摩擦系數(shù)變化情況。通過分析摩擦力/摩擦系數(shù)隨時(shí)間或隨位移的變化,可以評(píng)估涂層的牢固程度和耐磨性能。
更新時(shí)間:2025-09-18
yyt1898-2024導(dǎo)管導(dǎo)絲親水涂層牢固度測(cè)試儀采用先進(jìn)的測(cè)試原理,通過硅膠片向?qū)Ч軐?dǎo)絲施加法向夾持力,在豎直方向上以一定的速度提升樣品。在測(cè)試過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)供試樣品在多次反復(fù)過程中的摩擦力/摩擦系數(shù)變化情況。通過分析摩擦力/摩擦系數(shù)隨時(shí)間或隨位移的變化,可以評(píng)估涂層的牢固程度和耐磨性能。
更新時(shí)間:2025-09-18
涂層摩擦力測(cè)試儀yyt1898-2024采用先進(jìn)的測(cè)試原理,通過硅膠片向?qū)Ч軐?dǎo)絲施加法向夾持力,在豎直方向上以一定的速度提升樣品。在測(cè)試過程中,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)供試樣品在多次反復(fù)過程中的摩擦力/摩擦系數(shù)變化情況。通過分析摩擦力/摩擦系數(shù)隨時(shí)間或隨位移的變化,可以評(píng)估涂層的牢固程度和耐磨性能。
更新時(shí)間:2025-09-18
每輪實(shí)驗(yàn)時(shí)間可縮短到6—8個(gè)小時(shí)，僅為靜態(tài)法的1/4—1/3
更新時(shí)間:2025-09-18
測(cè)量電纜、固體、液體緣材料的電容值和介質(zhì)損耗值。
更新時(shí)間:2025-09-18
dt304-353便攜式阻抗測(cè)試儀具有易于攜帶、操作簡(jiǎn)便、測(cè)量迅速、顯示結(jié)果直觀等特點(diǎn)。供電采用直流供電，內(nèi)置充電電池，用于現(xiàn)場(chǎng)無(wú)電源情況下使用，滿電狀態(tài)下可以連續(xù)測(cè)量10小時(shí)。
更新時(shí)間:2025-09-18
便攜式電阻儀 表面電阻測(cè)試儀該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀，規(guī)格為103 歐姆/米2 ～1012 歐姆/米2 ，精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。
更新時(shí)間:2025-09-18
干擾測(cè)量阻抗匹配器 干擾測(cè)量阻抗匹配儀 干擾測(cè)量阻抗匹分析儀dt307-zn28200干擾測(cè)量阻抗匹配器專門用于高壓電器設(shè)備無(wú)線電干擾測(cè)量，在進(jìn)行測(cè)量試驗(yàn)時(shí)
更新時(shí)間:2025-09-18
本儀器用于測(cè)定各種已經(jīng)或未經(jīng)抗水或拒水整理織物表面的抗?jié)裥裕ㄕ此燃?jí)）。gb/t4745-1997 《紡織織物 表面抗?jié)裥詼y(cè)定 沾水試驗(yàn)》
更新時(shí)間:2025-09-18
該儀器為一臺(tái)便攜式電阻儀，規(guī)格為103歐姆/米2～1012歐姆/米 2 ，精確度為±101/2。它主要用于測(cè)量表面電阻接地電阻。在測(cè)量表面電阻的時(shí)候，只要把儀器放在測(cè)量物表面，按下紅色測(cè)試按鈕就可以了。隨后儀器便會(huì)亮起103歐姆/米2 ～1012歐姆/米2范圍內(nèi)相應(yīng)的燈或緣顯示。在測(cè)量接地電阻的時(shí)候，重復(fù)上述過程，同時(shí)將接地插頭插入連接接地點(diǎn)的插座中即可。
更新時(shí)間:2025-09-18
保真質(zhì)保nihonspeed油泵k1p1rv11a安裝簡(jiǎn)便頂路智能科技（廈門）有限公司銷售經(jīng)理：黃家明
更新時(shí)間:2025-09-18
loesta ax 低電阻率計(jì)是一種手持儀器，測(cè)量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計(jì)使用各種探頭測(cè)量電阻率。loesta ax使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的rcf，如果已知的話，用戶也可以輸入其他rcf。它通常用于產(chǎn)品工程和質(zhì)量控制。應(yīng)用域包括導(dǎo)電涂料、導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導(dǎo)電纖維、導(dǎo)電陶瓷等。
更新時(shí)間:2025-09-18
高溫四探針電阻率測(cè)試儀功能介紹：液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：
更新時(shí)間:2025-09-18
四探針方阻電阻率測(cè)試儀，使用方便；配備軟件電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
更新時(shí)間:2025-09-18
ft-353絕緣材料高溫表面電阻測(cè)試儀適用范圍：適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。
更新時(shí)間:2025-09-18
硅片高溫方阻測(cè)試儀 廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ito）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù) 硅片高溫方阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2025-09-18
浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷 液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表； 浙江高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)廠家直銷
更新時(shí)間:2025-09-18
直流低電阻測(cè)試儀性能特點(diǎn):5位led顯示，穩(wěn)定性好。最小的分辨率：1μω直讀值與百分比誤差顯示、上超、下超、合格分選及訊響功能提供rs-232c接口及handler接口（選配）
更新時(shí)間:2025-09-18
智能粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范
更新時(shí)間:2025-09-18
四探針電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
更新時(shí)間:2025-09-18
寧波半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀 按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-09-18
負(fù)極材料粉末電阻率測(cè)試儀 滿足：yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法 第6部分 粉末電阻率的測(cè)定；本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。
更新時(shí)間:2025-09-18
導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-09-18
多功能材料電阻率測(cè)試儀適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電阻率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置
更新時(shí)間:2025-09-18
通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.
更新時(shí)間:2025-09-18
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時(shí)間:2025-09-18
導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2025-09-18
材料低電阻率測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時(shí)間:2025-09-18
雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間:2025-09-18
四探針方阻儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時(shí)間:2025-09-18
方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).
更新時(shí)間:2025-09-18
薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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自動(dòng)導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀采用一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，將粉末比電阻的測(cè)量與粉體電阻率/電導(dǎo)率分析為一體，測(cè)量與數(shù)據(jù)分析通過pc軟件完成，粉體壓強(qiáng)與電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化關(guān)系
更新時(shí)間:2025-09-18
雙電測(cè)電四探針電阻率測(cè)試儀本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
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薄膜電阻率測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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薄膜或涂層方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)
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導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).
更新時(shí)間:2025-09-18
端子電壓降測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).
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