其他產品及廠家
測量精度：±1毫米測量范圍：0.05-300米計量單位：米，英尺，英寸激光點的直徑：10，50，100米 6，30，60毫米顯示單位：0.1mm/1/32in傾斜傳感器的測量范圍：360°pointfinder，支持4倍變焦：有概述相機：有
更新時間:2025-04-27
測量精度：1mm測量范圍：0.05-150m顯示單位：0.1mm/1/32in軟件：有激光類型：635nm<1mw 激光點|距離：6/30/60mm|10/50/100m
更新時間:2025-04-27
型號：徠卡disto one應用：拆遷丈量、家具定制、窗戶安裝、室內布置、建筑施工、裝修設計、點距離測距、高度測量測量范圍：0.05~20m測量精度：±1.5mm
更新時間:2025-04-27
徠卡disto d1簡約設計、小巧實用徠卡disto d1是徠卡小型手持激光測距儀，簡約的機身設計、質感體驗，黑紅搭配，40m測程，±2mm測量精度。產品特點：測距范圍: 0.2-40m測距精度: ±2mm
更新時間:2025-04-27
測量精度：±1.5mm測量范圍：0.2-60m測量單位：m、ft、inpowerrangetechnology：是屏幕照片：是免費應用程序：是數據接口：智能藍牙
更新時間:2025-04-27
單通測距儀模式，性能更穩(wěn)定。筆型外觀，輕巧便攜簡單易用：簡化的鍵盤-直觀易用外觀設計小巧：緊密設計適合每個袋口堅固可在困難的工地環(huán)境中使用防土渣、防塵和防水花：防塵、防射水、工程橡膠保護背光顯示照明，即使在黑暗環(huán)境中也能閱讀測量結果
更新時間:2025-04-27
型號 pd-i 測量范圍 0.05-100m測量精度±1.5mm測量速度 (連續(xù)測量)單次及持續(xù)測量電池2x1.5v(aaa)操作溫度-10℃到50℃防護等級ip65
更新時間:2025-04-27
型號：ildm-150h/ildm-160h量程：150米/160米測量精度：±1.5mm顯示精度：1mm測量單位：米、英寸、英尺
更新時間:2025-04-27
溫度：-20 °c 至 60 °c溫度精度：±0.5 °c分辨率：0.1 °c / 0.1 °f溫度更新速率：500 ms溫度傳感器類型：ntc相對濕度范圍：5%至95% rh
更新時間:2025-04-27
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-04-27
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-04-27
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-04-27
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-04-27
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-04-27
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-04-27
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-04-27
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-04-27
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-04-27
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-04-27
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數據傳輸的穩(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-04-27
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-04-27
數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-04-27
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-04-27
數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數據，其中上升沿傳輸數據的奇數字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數據的偶數字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-04-27
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-04-27
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-04-27
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-04-27
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-04-27
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-04-27
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-04-27
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-04-27
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-04-27
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-04-27
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-04-27
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-04-27
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-04-27
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-04-27
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-04-27
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-04-27
適用于測試建筑材料。對于復合制品，可以對組成該制品的各組分材料分別進行測試，并在試驗報告中說明。有涂層、有飾面層或多層的制品還可以按其他對火反應試驗方法進行評定，該測試儀器也可用來對 bs 476-4 & 11 以及 imo ftp part 1標準進行檢測.
更新時間:2025-04-26
非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲等力學性能測試和分析研究？勺詣忧笕eh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗參數，并可根據gb、iso、din、astm、jis等國際標準進行試驗和提供數據。
更新時間:2025-04-26
采用伺服電機驅動,伺服電機通過傳動機構帶動移動橫梁上下移動,實現試驗加載過程.主本機采用的dscc-1全數字閉環(huán)控制系統(tǒng)進行控制及測量，采用計算機進行試驗過程及試驗曲線的動態(tài)顯示，并進行數據處理，試驗結束后可通過圖形處理模塊對曲線放大進行數據再分析編輯.
更新時間:2025-04-26
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